Delay Fault Testing for VLSI Circuits Angela Krstic ; Kwang-Ting Cheng

In that sense, this book is the best x DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS available guide for an engineer designing or testing VLSI systems. Tech niques for path delay testing and for use of slower test equipment to test high-speed circuits are of particular interest.
Voorraad:
Nieuw
Verkrijgbaar in
Webshop
Prijs:
€ 177,80
Voorraad:
Levertijd:

Afwijkende levertijd: 23 tot 25 Dagen.

Winkelvoorraad

Het kan zijn dat er op dit moment een verkoop plaatsvindt, waardoor de actuele voorraad afwijkt. Hier kunnen geen rechten aan worden ontleend.

Reserveren

Nieuwe boeken en ramsj kunt u reserveren wanneer deze op voorraad zijn. U kunt uw reservering in de winkel ophalen. De betaalwijze kunt u aangeven bij stap 3 'Betaalwijze'

.
MINDBUSZEUS2 : broekhuis