Digital Systems Testing and Testable Design Miron Abramovici ; Melvin A. Breuer ; Arthur D. Friedman

This updated printing of the leading text and reference in digital systems testing and testable design provides comprehensive, state-of-the-art coverage of the field. Included are extensive discussions of test generation, fault modeling for classic and new technologies, simulation, fault simulation, design for testability, built-in self-test, and diagnosis. Complete with numerous problems, this book is a must-have for test engineers, ASIC and system designers, and CAD developers, and advanced engineering students will find this book an invaluable tool to keep current with recent changes in the field.
Voorraad:
Nieuw
Verkrijgbaar in
Webshop
Prijs:
€ 208,95
Voorraad:
Levertijd:

Afwijkende levertijd: 10 tot 12 Dagen.

Winkelvoorraad

Het kan zijn dat er op dit moment een verkoop plaatsvindt, waardoor de actuele voorraad afwijkt. Hier kunnen geen rechten aan worden ontleend.

Reserveren

Nieuwe boeken en ramsj kunt u reserveren wanneer deze op voorraad zijn. U kunt uw reservering in de winkel ophalen. De betaalwijze kunt u aangeven bij stap 3 'Betaalwijze'

.
pro-mbooks1 : broekhuis