Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits Manoj Sachdev ; Jose Pineda de Gyvez

The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield.
Voorraad:
Nieuw
Verkrijgbaar in
Webshop
Prijs:
€ 240,10
Voorraad:
Levertijd:

Afwijkende levertijd: 5 tot 7 Dagen.

Winkelvoorraad

Het kan zijn dat er op dit moment een verkoop plaatsvindt, waardoor de actuele voorraad afwijkt. Hier kunnen geen rechten aan worden ontleend.

Reserveren

Nieuwe boeken en ramsj kunt u reserveren wanneer deze op voorraad zijn. U kunt uw reservering in de winkel ophalen. De betaalwijze kunt u aangeven bij stap 3 'Betaalwijze'

.
pro-mbooks1 : broekhuis