High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability Stephan Eggersgluess ; Rolf Drechsler

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.
Voorraad:
Nieuw
Verkrijgbaar in
Webshop
Prijs:
€ 127,00
Voorraad:
Levertijd:

Afwijkende levertijd: 23 tot 25 Dagen.

Winkelvoorraad

Het kan zijn dat er op dit moment een verkoop plaatsvindt, waardoor de actuele voorraad afwijkt. Hier kunnen geen rechten aan worden ontleend.

Reserveren

Nieuwe boeken en ramsj kunt u reserveren wanneer deze op voorraad zijn. U kunt uw reservering in de winkel ophalen. De betaalwijze kunt u aangeven bij stap 3 'Betaalwijze'

.
pro-mbooks1 : broekhuis